概述 

Active Technologies提供全新高性能系列仪器，包括紧凑型和稳健型1U 19‘’机架版式。
通过AT-XSS扩展总线，可连接和同步多达8台仪器， 组成完全集成的高性能测试系统。
一个1U嵌入式PC提供总的系统控制和可靠的数据采集及处理。

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机架系列包括:

	AT-LA500 - 500MS/s 逻辑分析仪 36通道@500MS/s 千兆检视: 36通道@1.5 GHz (666 ps) 500MHz定时分析，200MHz状态分析 31个触发水平 每通道2M Samples 集成示波器作为混合信号分析仪 4个独立可编程门限 模式产生-取样： - 36通道@125MHz 产生， 250MHz 取样 - 数字波形序列产生器 - 可产生640个矢量，采集2百万个矢量 - 2组可编程方向 - 可编程事件检测器 - 并行1，2或4线系列操作模式 .
	AT-AWG4000 – 4通道 1Gs/s 16位 任意波发生器 4 通道, 16 位, 1 GS/s 任意波 每通道2百万采样点 16 位 (n)ASK, (n)QAM, (n)PSK/FSK, PWM 调制 每通道序列产生器 真任意波和36位DDS模式 通道间数学运算: 求和, 差分, 乘积 数字模式输出 100MHz正弦波 三角波, 方波, 脉冲波, 斜波, 噪声, DC 模式产生-取样: - 36 通道@125MHz每比特可编程方向 - 36 通道@250MHz固定方向 - 1百万矢量产生，1百万矢量取样 - 数字波形序列产生器 - 并行1、2、4线系列操作模式 - 31个电平可编程事件检测器 - 2 组可编程I/O电平
	AT-AWG PWR – 高电流带宽 1Gs/s 16位 任意波发生器 输出大电流：600mA连续， 3A峰值 不受限制的容性负载驱动能力 高转换速率：<400ns上升时间@100nF容性负载 ±8V输出摆幅@600mA负载，±10V@输出开路 在试设备电源线上的高频噪声产生 16位, 1Gs/s波形 2 百万采样点 波形序列产生器
	AT-PMU – 16通道高性能可编程测量单元 台式使用可多达16个并行I-V特性分析 高级使用作为复杂设备特性分析 集成16个输入, 16个输出高速率低寄生开关矩阵 每个引脚灵活的可编程开关矩阵配置 每通道独立的2至8个并行I-V测量单元: - 12位，14位测量分辨率 - 65MS/s采样率 - 2个电流量程：±100µA 和 ±500µA - 2个电压量程：±1.2V 和 ±12V - 1百万采样点用于“像示波器”采集 - 2K采样点双端口存储器用于“很忙”采集 - 可编程硬件平均 - 可编程电压或电流测试模式 2个并行电压源：±10V量程, 16位精度 2个并行电流源：±50µA, ±500µA量程, 16位精度